注意了！這些因素會(huì )影響涂鍍層測厚儀的準確性

　　涂鍍層測厚儀是一款利用簡(jiǎn)單的磁法對非鐵性材料進(jìn)行可靠且具有重復性厚度測量的便攜式儀器。測量時(shí)，在被測材料的一側按住或移動(dòng)磁探頭，在材料的另一側放上或在容器里放入一個(gè)小目標鋼珠。探頭的霍爾效應傳感器測量探頭端部到目標鋼珠的距離。測量到的距離值被即刻作為厚度讀數以容易辨讀的大字體彩色數字形式顯示在屏幕上。

 

　　那么涂鍍層測厚儀的準確性會(huì )受哪些因素的影響呢？

 

　　1、邊界間距

 

　　如果探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規定的邊界間距，由于磁通或渦流載體截面不夠將導致測量誤差。如必須測量該點(diǎn)的覆層厚度，只有預先在相同條件的無(wú)覆層表面進(jìn)行校準，才能測量。

 

　　2、基體表面曲率

 

　　在一個(gè)平直的對比試樣上校準好一個(gè)初始值，然后在測量覆層厚度后減去這個(gè)初始值?；騾⒄障聴l。

 

　　3、基體金屬厚度

 

　　基體金屬必須有一個(gè)給定的厚度，使探頭的電磁場(chǎng)能包容在基體金屬中，最小厚度與測量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān)，在這個(gè)厚度之上剛好可以進(jìn)行測量而不用對測量值修正。對于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響，可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷，或無(wú)法加基材則可以通過(guò)與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對比來(lái)確定與額定值的差值。并且在測量中考慮這點(diǎn)而對測量值作相應的修正或參考第2條修正。而那些可以標定的儀器通過(guò)調整旋鈕或按鍵，便可以得到準確的直讀厚度值。反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測銅箔厚度的儀器。

 

　　4、表面粗糙度和表面清潔度

 

　　在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測量值必須進(jìn)行多次測量才行。顯而易見(jiàn)，不論是基體或是覆層，越粗糙，測量值越不可靠。為獲得可靠的數據，基體的平均粗糙度Ra應小于覆層厚度的5%。而對于表面雜質(zhì)，則應予去除。有的儀表上下限，以剔除那些“飛點(diǎn)”。