X熒光光譜儀包括一個(gè)光學(xué)平臺，可大大減少雜散光并提高機械和溫度穩定性。這個(gè)新的光學(xué)平臺具有雙內置模式消除器和多級復合拋物面反射鏡，因此雜散光減少至0.04％，是標準光譜儀的2.5倍。除了顯著(zhù)改善雜散光之外，這種新的光學(xué)平臺還將光譜儀的機械強度提高了10倍以上，從而使其對機械變形和溫度變化的敏感性降低。
X熒光光譜儀的低雜散光特性使其特別適合需要測量高吸光度的應用，例如高化學(xué)濃度，高光密度光學(xué)組件和長(cháng)光程測量。這種新型的光學(xué)平臺和光譜儀既適用于OEM應用又適用于單儀器應用。該儀器具有較低的雜散光（400nm下為0.015％）效果，并且在可見(jiàn)光范圍（360-825nm）內具有良好的顏色測量效果，從而提高了低照度下測量的靈敏度和處理效果。
1、具有良好的熱穩定性，其性能可與科研級光譜儀相媲美，可以選擇以滿(mǎn)足各種應用挑戰。
2、使用變節距凹面光柵。這種設計使光譜系統更加有效。中心光柵線(xiàn)密度為550（+/-2）標線(xiàn)/mm，標稱(chēng)火焰波長(cháng)為400nm。
3、配備的凹面光柵非常有助于提高其熱穩定性。在較寬的溫度范圍內進(jìn)行測量。結果，幾乎沒(méi)有波長(cháng)漂移，并且峰形具有良好的保留效果。因此，在要求低雜散光和熱穩定性的精密測量，熒光測量或吸光度測量中。
4、該儀器測量能力適用于要求寬測量范圍，低雜散光，高處理效率和良好熱穩定性的各種應用：
?。?）大氣中的痕量氣體成分。
?。?）光學(xué)致密物質(zhì)溶液的吸光度。
?。?）LED/激光和其他光源的精密測量。
?。?）組織醫學(xué)輻射和生物介質(zhì)的測量。
?。?）固體表面熒光的測量溶液和粉末中的反向散射/熒光溶液。
更新時(shí)間：2022-11-11
點(diǎn)擊次數：423
當前位置：
