X熒光光譜儀常用的三種測量方法分享

　　X熒光光譜儀是根據X射線(xiàn)熒光光譜分析方法配置的儀器，由激發(fā)源（X射線(xiàn)管）和探測系統構成。能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量，具有靈敏度高、精密度好、性能穩定、分析速度快等特點(diǎn)，是一種中型、經(jīng)濟、高性能儀器。

　　該儀器要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強度準確性和波長(cháng)準確性以及強的抗外界干擾性和優(yōu)良的儀器穩定性，在儀器的軟件上，要求能夠進(jìn)行導數、去卷積等復雜的數學(xué)計算，能夠計算光譜間相似度、模式識別分析、支持多元校正分析和用戶(hù)自建譜庫并進(jìn)行檢索。

　　今天小編要與大家分享的是X熒光光譜儀所常采用的三種測量方法：

　　1、時(shí)間延遲法：由產(chǎn)生熒光的原理可知，熒光從產(chǎn)生到*消失，它有一個(gè)時(shí)間過(guò)程（即從高能級的非穩態(tài)躍遷到低能級的亞穩態(tài)或穩態(tài)的時(shí)間）。不同的物質(zhì)，這個(gè)時(shí)間的長(cháng)短是不一樣的，它們從幾微秒到幾分鐘不等。我們可以給探測器的快門(mén)一個(gè)延遲時(shí)間，讓激發(fā)光*消失后開(kāi)始對熒光采樣。在一些特殊條件，如用反射探針測固體、液體的熒光時(shí)，光路無(wú)法90°布置，這時(shí)需要通過(guò)延遲采樣時(shí)間來(lái)分離出熒光。

　　2、濾波法：從熒光產(chǎn)生原理可知，熒光的波長(cháng)大于激發(fā)光的波長(cháng)。我們在探測器前面放一個(gè)長(cháng)通濾波片，它的截至波長(cháng)稍大于激發(fā)光波長(cháng)。這樣，只有熒光才能被探測器采集。該法的另一個(gè)好處是可以濾掉一部分雜散光，但是它也可能濾掉一部分熒光。

　　3、90°布置法：激發(fā)光和探測器90°方向布置。由于熒光沒(méi)有方向性，它向四周發(fā)射，因此可以把探測器放在與激發(fā)光成90°的位置來(lái)接收熒光。大部分的熒光測量裝置都采用此方法（同時(shí)常常配上其它方法）。